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高加速寿命试验的问答
高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验)是一种主要针对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示其设计缺陷和不足的过程。高加速寿命试验的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠...
2013-08-30
LED照明产品性能检测方法分析
近年来，随着LED技术的持续发展，大功率半导体照明器件在近年来得到了飞速的发展，特别是白光功率和光效不断提高，LED产品逐步进入照明领域，引发了一场新的照明技术领域的革命。
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2013-08-23
高加速寿命试验(HALT)的常见问答
高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing，简称HALT试验)是一种主要针对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示其设计缺陷和不足的过程。HALT测试的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优化产品的可靠性...
2013-08-16
IP外壳防护等级测试(IP代码/防尘防水)测试常见问题
IP外壳防护等级(IP代码/防尘防水)是电子电器设备及产品安全可靠性防护的一项重要指标。所谓IP代码，表明了产品外壳对人接近危险部件、防止固体异物、防止水进入的防护等级以及与这些防护有关的附加信息的代码系统。大多数类型的电子电器产品，尤其是可在...
2013-08-09
